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真密度（True Density ）指材料在絕對密實狀態(tài)下的體積內(nèi)固體物質(zhì)的實際體積，不包括內(nèi)部孔隙或者顆粒間的空隙（叫真密度）。與之相對應(yīng)的物理性質(zhì)還有表觀密度和堆積密度。
Microtrac MRB全新設(shè)計的全自動真密度分析儀BELPYCNO采用氦氣、氮氣和SF6 等惰性氣體做為置換介質(zhì)。樣品密封在已知體積的樣品室中，一定壓力的惰性氣體進入樣品室，然后氣體膨脹到另外一個膨脹室中。膨脹前后的壓力由傳感器測定并計算得到樣品的體積，用樣品稱重的質(zhì)量除以測定出來的體積得到樣品的真密度。
• 配件室內(nèi)置在儀器主機里，方便用戶取用
• 不同尺寸的校準球和樣品室、夾取鑷子存放在配件室中
• 儀器帶有安全閥設(shè)計，過高進氣壓力通過安全閥排氣來降低
全自動真密度分析儀產(chǎn)品參數(shù)
| 精度 | ±0.03%（F.S. of readings） |
| 重復(fù)性 | ±0.02%（F.S. of 10cc） |
| 測量溫度范圍 | 15°C~35°C 15°C~50°C（需要配備恒溫槽系統(tǒng)） |
| 測量壓力范圍 | 大氣層~150千帕 |
Microtrac MRB：作為一個顆粒表征解決方案的供應(yīng)商，提供三條產(chǎn)品線，在三大洲擁有研發(fā)和技術(shù)中心。
散射光分折: Microtrac MRB作為粒度測量的通用方法—靜態(tài)激光衍射法的領(lǐng)導(dǎo)者，還提供的動態(tài)光散射納米粒度儀，用于納米顆粒的表征。該產(chǎn)品線的開發(fā)和生產(chǎn)地點位于美國的賓夕法尼亞州。
圖像分析: Microtrac MRB基于動態(tài)圖像分析技術(shù)，為顆粒大小和形態(tài)的測定提供了高質(zhì)量的PartAn系列測量系統(tǒng)。這些圖像分析儀的開發(fā)和生產(chǎn)地點位于德國的哈恩。
比表面和孔徑測量: Microtrac MRB的另外一條產(chǎn)品線采用氣體吸附法為粉體樣品的比表面值，BET值和孔徑測量提供了吸附系列的分析儀器。開發(fā)和生產(chǎn)以及裝配地點位于日本大阪的表面分析中心。
